Ingyenes szállítás a Packetával, 19 990 Ft feletti vásárlás esetén
Posta 1 795 Ft DPD 1 995 Ft PostaPont / Csomagautomata 1 690 Ft Postán 1 690 Ft Packeta 990 Ft GLS futár 1 590 Ft GLS pont 1 390 Ft

CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155

Nyelv AngolAngol
Könyv Puha kötésű
Könyv CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 Alexander A. Demkov
Libristo kód: 02439020
Kiadó Cambridge University Press, június 2014
To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into convent... Teljes leírás
? points 91 b
14 372 Ft
Beszállítói készleten Küldés 19-25 napon belül

30 nap a termék visszaküldésére


Ezt is ajánljuk


Handbook of Global Agricultural Markets Luc Nijs / Kemény kötésű
common.buy 47 761 Ft
Red Lily - Complete Anatole France / Puha kötésű
common.buy 12 061 Ft
Séminaire de Probabilités X P.-A. Meyer / Puha kötésű
common.buy 25 914 Ft
Creative Thinking Ages 6-8 Ann Baker / Puha kötésű
common.buy 8 930 Ft
Die Arterio-Ven sen Anastomosen Max Clara / Puha kötésű
common.buy 26 357 Ft
Albert Hall Lenore Coltheart / Puha kötésű
common.buy 17 799 Ft
Century 21 Chris Bentley / Kemény kötésű
common.buy 11 321 Ft
Last Cowboys John Branch / Kemény kötésű
common.buy 9 121 Ft
Analysis and Modeling of Faces and Gestures S. Kevin Zhou / Puha kötésű
common.buy 24 218 Ft
Advanced Intelligent Computing Theories and Applications De-Shuang Huang / Puha kötésű
common.buy 48 576 Ft
Heresy and Obedience in Tridentine Italy Dermot Fenlon / Puha kötésű
common.buy 21 449 Ft
Controversies in Innocence Cases in America Sarah Lucy Cooper / Kemény kötésű
common.buy 77 747 Ft
Blauwassersegeln Manual Barry Pickthall / Kemény kötésű
common.buy 7 767 Ft
Homeward Bound Or, the Chase James Fenimore Cooper / Puha kötésű
common.buy 16 607 Ft
Maintaining Health Formerly Health and Efficiency R. L. Alsaker / Puha kötésű
common.buy 16 607 Ft
Auf Der Suche Nach Der Bilanzwahrheit Carl Zimmerer / Puha kötésű
common.buy 26 357 Ft

To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.

Információ a könyvről

Teljes megnevezés CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Nyelv Angol
Kötés Könyv - Puha kötésű
Kiadás éve 2014
Oldalszám 194
EAN 9781107408326
ISBN 1107408326
Libristo kód 02439020
Súly 27
Méretek 152 x 229 x 10
Ajándékozza oda ezt a könyvet még ma
Nagyon egyszerű
1 Tegye a kosárba könyvet, és válassza ki a kiszállítás ajándékként opciót 2 Rögtön küldjük Önnek az utalványt 3 A könyv megérkezik a megajándékozott címére

Belépés

Bejelentkezés a saját fiókba. Még nincs Libristo fiókja? Hozza létre most!

 
kötelező
kötelező

Nincs fiókja? Szerezze meg a Libristo fiók kedvezményeit!

A Libristo fióknak köszönhetően mindent a felügyelete alatt tarthat.

Libristo fiók létrehozása